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涂层测厚仪2000A的正确使用方法

发布时间:2017-11-18      点击次数:1242
涂层测厚仪2000A适合于使用在不需要全部测量数据存储,评估和输出,但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。配有不同种类的探头以适应各种应用情况。探头自动识别。应用程式特定的校准参数储存在测量探头中,因此仪器一旦连接了探头都能立即进行测量。
 
涂层测厚仪2000A的正确使用方法
(1)附着物质的影响。本仪器对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此必须清除附着物质,以探头与覆盖层表面直接接触。在进行系统校准时,选择的基体的表面也必须是裸露的、光滑的。
(2)强磁场的干扰。曾做过一个简单实验,当仪器在1万V左右的电磁场附近工作时,测量会受到严重的干扰。如果离电磁场近时还有可能会发生死机现象。
(3)人为因素。这中情况经常会发生在的身上。涂层测厚仪2000A之所以能够测量到微米级就因为它能够采取磁通量的微小变化,并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机 体,使磁通量发生变化造成错误测量。所以建议用户初次使用本仪器时,要先掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响,在测量中应使探头与试样表 面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长,以免造成基体本身磁场的干扰。
(4)在系统校准时没有选择合适的基体。基体小平面为7mm,小厚度为0.2mm,低于此临界条件测量是不可靠的。
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