咨询电话

13526877955

当前位置:首页  >  技术文章  >  探头性能校准的具体步骤是什么?

探头性能校准的具体步骤是什么?

更新时间:2025-12-26      点击次数:25
探头性能校准是超声波探伤系统校准的核心环节,直接影响缺陷检测的灵敏度、定位精度和定量准确性,需依据《无损检测超声检验探头及其声场的表征》、《超声波探伤用探头性能测试方法》等标准执行。校准内容主要包括探头入射点、K值(折射角)、灵敏度余量、分辨率、声轴偏斜等关键指标,以下是各指标的具体校准步骤、操作要点及判定标准。
 
一、探头入射点校准(确定探头声束发射中心)
 
入射点是指探头声束轴线与探测面的交点,是缺陷定位的基准点,校准步骤如下:
 
准备工作:选取Ⅱ型校准试板(CSK-ⅡA)或专用入射点校准试板,将试板置于平整的工作台上,确保探测面清洁、无油污和锈蚀;连接探头与探伤仪,开启设备,将探伤仪设置为单探头探伤模式,调节增益使显示屏出现稳定波形。
 
定位与标记:手持探头,将探头前端紧贴试板边缘,缓慢向试板中心移动,同时观察显示屏上的试板端面反射波(始波后的第一个大反射波)。当端面反射波达到最高、最稳定时,停止移动探头,此时探头前端与试板边缘的接触点即为入射点的大致位置。
 
精确校准:用记号笔在探头外壳上标记出与试板边缘对齐的位置,然后将探头沿试板边缘前后微调,反复确认端面反射波的峰值位置,最终确定入射点的精确位置,并在探头外壳上做好永久标记(如用钢针刻线)。
 
验证:将探头入射点对准试板上已知深度的平底孔,测量缺陷波的水平距离,与理论值对比,误差≤1mm即为合格。
 
二、探头K值(折射角)校准(适用斜探头)
 
K值是斜探头声束折射角的正切值(K=tanβ,β为折射角),直接影响缺陷的定位精度,校准步骤如下:
 
试板选择:选用Ⅱ型校准试板(CSK-ⅡA)或Ⅲ型校准试板(CSK-ⅢA),试板上需有不同深度的横孔或槽,用于声束定位。
 
参数设置:将探伤仪的水平刻度(时基)调整为“深度”或“水平距离”显示模式,根据试板厚度和探头预估K值,调节扫描范围,确保试板上的横孔反射波能完整显示在显示屏上。
 
校准操作:
 
将探头置于试板探测面,移动探头使声束对准试板上的横孔(如深度为d1的横孔),调节增益使横孔反射波达到80%满屏高度,记录此时显示屏上的水平距离L1。
 
移动探头对准另一深度的横孔(如深度为d2的横孔),重复上述操作,记录水平距离L2。
 
根据公式计算K值:K=(L2-L1)/(d2-d1),取多次测量的平均值作为探头的实际K值。
 
判定标准:实际K值与标称K值的误差≤±0.1(或折射角误差≤±2°)即为合格,若误差超出范围,需通过探伤仪的K值修正功能进行调整,或更换探头。
 
三、探头灵敏度余量校准(评估探测能力)
 
灵敏度余量是指探头在检测到规定反射体(如Φ2mm平底孔)时,探伤仪剩余的增益能力,反映探头的探测灵敏度和抗干扰能力,校准步骤如下:
 
试板与参数设置:选用Ⅱ型校准试板,将探头置于试板探测面,对准试板上的Φ2mm平底孔(或标准规定的反射体);将探伤仪的增益调至最小,抑制调至0,扫描范围调整为覆盖试板厚度。
 
基准波形调节:缓慢增加增益,直至平底孔反射波达到80%满屏高度,此时的增益值记为基准增益G0。
 
灵敏度余量计算:继续增加增益,直至显示屏上出现噪声满屏(或达到探伤仪最大增益),此时的增益值记为Gmax;灵敏度余量ΔG=Gmax-G0。
 
判定标准:一般工业用超声波探头的灵敏度余量≥30dB,部分探伤探头(如聚焦探头)≥40dB,若余量不足,说明探头性能下降,需更换或维修。
 
四、探头分辨率校准(区分相邻缺陷的能力)
 
分辨率分为纵向分辨率(区分同一声轴上相邻缺陷的能力)和横向分辨率(区分不同声轴上相邻缺陷的能力),常用纵向分辨率校准,步骤如下:
 
试板选择:选用分辨率校准试板(如Ⅱ型试板上的相邻平底孔,或专用分辨率试板),试板上有两个间距较小的平底孔(如间距2mm)。
 
校准操作:将探头置于试板探测面,对准两个平底孔的中心位置,调节增益使两个平底孔的反射波均达到80%满屏高度,观察显示屏上两个波形的分离程度。
 
判定标准:若两个波形的波谷低于波峰的1/2(即分离度≥50%),则判定分辨率合格;若两个波形重叠,无法区分,则说明探头分辨率不足,不适合用于检测细小相邻缺陷。
 
五、声轴偏斜校准(评估声束的同轴度)
 
声轴偏斜是指探头实际声束轴线与探头几何轴线的偏差,会导致缺陷定位偏差,校准步骤如下:
 
试板与装置:选用声轴偏斜校准试板(如带有平行横槽的试板),或使用两个平行的反射面(如两块平行放置的钢板)。
 
校准操作:将探头置于试板探测面,沿试板缓慢移动探头,观察反射波的高度变化;若声轴无偏斜,反射波高度稳定;若声轴偏斜,反射波高度会随探头移动出现明显波动。
 
量化评估:通过测量反射波高度的最大波动值,计算声轴偏斜角度,一般要求偏斜角度≤2°,否则会影响缺陷定位精度,需更换探头。
 
六、校准注意事项与周期
 
环境要求:校准应在室温(15℃–35℃)、无强电磁干扰、无振动的环境中进行,避免温度变化导致探头性能波动。
 
耦合剂使用:校准过程中需使用专用耦合剂(如甘油、机油),确保探头与试板之间耦合良好,无空气间隙,避免耦合不良影响校准结果。
 
校准周期:新探头使用前必须校准;在用探头每6个月校准一次;若探头出现磕碰、损坏或检测结果异常,需立即重新校准。
 
记录与存档:校准完成后,需填写《超声波探头校准记录》,记录探头型号、校准日期、各项指标的测量值、判定结果等信息,存档备查。
版权所有©2025 郑州君达仪器仪表有限公司 All Rights Reserved    备案号:豫ICP备09038024号-3    sitemap.xml    管理登陆    技术支持:化工仪器网