超声波测厚仪的基本原理和产品特点概述

 

　　超声波测厚仪的基本原理：

　　采用超声波测量原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似。探头发射的超声波脉冲到达背测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。

 

　　超声波测厚仪的产品特点：

　　高精度测厚：具有探头零点校准、两点校准功能，可对系统误差进行自动修正；根据已知厚度可以反测声速，以提高测量精度。

 

　　扫描模式：实时显示测量材料大小值。

 

　　通信，存储：USB接口可与上位机通信，实现测厚数据在线统计，TF卡存储保存。

 

　　穿透涂层测厚：强大的穿透涂层测厚功能使您免除辛苦打磨的繁琐准备工作，只需略微处理涂层表面就可以实现轻松测厚。

 

　　测值准确：高精度的测量电路保证在整个测量范围内都为0.1/0.01mm的分辨率。

 

　　显示界面：真彩液晶屏作为显示界面，背光亮度可调，自动熄屏功能。

 

　　中英文界面自由切换，客户使用更加方便快捷。